Описания лабораторных работ

На главную

К лекциям

ДТА

Метод постоянного фототока

Электронография

превращения в ХСП

Электрофотография

Солнечный элемент

В рамках курса "Физика и технология некристаллических полупроводников" студенты выполняют следующие работы:

Электронографические исследования материалов (Эл.М)

 

Измерение коэффициента поглощения и плотности состояний в полупроводниках с помощью метода постоянного фототока (МПФ)

 

Входной контроль структурно-чувствительных параметров некристаллических полупроводников при производстве приборов (ДТА)

 

Определение Параметров вакуумной установки и получение тонких пленок ионно-плазменными методами (ИПР)

 

Исследование структурных превращений в халькогенидных стеклообразных полупроводниках (ХСП)

 

Исследование параметров электрофотографических носителей изображения на основе некристаллических полупроводников (ЭФНИ)

 

Спектральная чувствительность и вольт-амперная характеристика солнечного элемента (СЭ) 

Лабораторная работа "Электронно-микроскопические и дифракционные исследования пленок нанокомпозитов"
Лабораторная работа "Определение характеристик оптических дисков методами туннельной и атомно-силовой микроскопии"


Материалы, представленные в данном  разделе являются собственностью автора курса и администратора раздела.

Использование без ссылки на источник не приветствуется.