Дифференциально-термический анализ

На главную

К лекциям

Метод постоянного фототока

Электронография

превращения в ХСП

Электрофотография

Солнечный элемент

УДК 

537

С232

УДК 537.311.322:539.213(076.5)

 

Из сборника лабораторных работ по курсу

 "Физика и технология аморфных полупроводников"

Подготовлено на кафедре Физики и технологии электротехнических материалов и компонентов

А.И. Попов, Н.И. Михалев, В.А. Лигачев, В.Н. Гордеев

Входной контроль структурно-чувствительных параметров некристаллических полупроводников при производстве приборов

версия для печати (формат pdf)

далее 

Материалы, представленные в данном  разделе являются собственностью автора курса и администратора раздела.

Использование без ссылки на источник не приветствуется.